技術(shù)編號：42041332
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于光學(xué)設(shè)計領(lǐng)域，涉及一種覆蓋可見光、近紅外、中波紅外和長波紅外的光學(xué)系統(tǒng)。背景技術(shù)、在目標(biāo)的探測與識別中，光電探測是一種常見的手段。隨著光電探測應(yīng)用背景的日益復(fù)雜，使用單波段系統(tǒng)進(jìn)行探測時獲取的信息量有限，使得在進(jìn)行目標(biāo)探測中準(zhǔn)確率降低甚至出現(xiàn)不能識別到目標(biāo)的情況。因此，寬波段成像或多波段成像對目標(biāo)的探測與識別具有十分重要的意義。、在光電探測系統(tǒng)的研制過程中，需要在不同的應(yīng)用場景下對各項指標(biāo)進(jìn)行測試，確保探測系統(tǒng)滿足設(shè)計指標(biāo)的要求，而在真實環(huán)境中模擬目標(biāo)的費用十分昂貴，不同的氣象狀況...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。