本發(fā)明電子設(shè)備探測領(lǐng)域，尤其是涉及基于半導(dǎo)體介質(zhì)分析的手持電子產(chǎn)品探測方法及裝置。
背景技術(shù)：
1、隨著電子技術(shù)的快速發(fā)展，各類便攜式電子設(shè)備的普及率不斷提高，這些設(shè)備在為人們生活和工作帶來便利的同時(shí)，也對(duì)某些特殊場所的安全管理提出了挑戰(zhàn)。
2、目前，市場上常見的電子設(shè)備探測裝置主要基于金屬探測技術(shù)，這類裝置雖然能夠探測到含金屬部件的電子產(chǎn)品，但面臨諸多技術(shù)局限。首先，金屬探測無法有效區(qū)分普通金屬物品與電子設(shè)備；其次，當(dāng)今電子設(shè)備越來越趨向小型化、輕量化，金屬含量減少，使得傳統(tǒng)金屬探測器的靈敏度難以滿足探測需求；更重要的是，現(xiàn)有技術(shù)難以應(yīng)對(duì)電子設(shè)備在關(guān)機(jī)狀態(tài)、移除電池、拔出sim卡等多種情況下的探測需求，例如，對(duì)微型電子設(shè)備（如米粒耳機(jī)）等小型電子產(chǎn)品的檢出能力極為有限。因此，現(xiàn)有技術(shù)中無法有效檢測出各種狀態(tài)下的電子設(shè)備。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)通過提供了基于半導(dǎo)體介質(zhì)分析的手持電子產(chǎn)品探測方法及裝置，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中無法有效檢測出各種狀態(tài)下的電子設(shè)備的技術(shù)問題。
2、本申請(qǐng)公開的第一個(gè)方面，提供了基于半導(dǎo)體介質(zhì)分析的手持電子產(chǎn)品探測方法，該方法包括：發(fā)射多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)，所述多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)包括低頻段電磁激勵(lì)信號(hào)、中頻段電磁激勵(lì)信號(hào)和高頻段電磁激勵(lì)信號(hào)；接收目標(biāo)檢測對(duì)象對(duì)所述多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)的響應(yīng)信號(hào)；對(duì)所述響應(yīng)信號(hào)進(jìn)行處理以提取響應(yīng)特征，所述響應(yīng)特征包括頻譜特征、諧波特征、阻抗特征和相位特征；基于所述響應(yīng)特征，在半導(dǎo)體元器件特征數(shù)據(jù)庫中進(jìn)行特征匹配，獲取特征匹配結(jié)果；根據(jù)所述特征匹配結(jié)果判斷所述目標(biāo)檢測對(duì)象是否含有電子設(shè)備；當(dāng)判斷所述目標(biāo)檢測對(duì)象含有電子設(shè)備時(shí)，通過聲光單元進(jìn)行示警。
3、可選地，對(duì)所述響應(yīng)信號(hào)進(jìn)行處理以提取響應(yīng)特征，包括：對(duì)所述響應(yīng)信號(hào)進(jìn)行預(yù)處理，獲得預(yù)處理后的響應(yīng)信號(hào)；對(duì)所述預(yù)處理后的響應(yīng)信號(hào)進(jìn)行時(shí)域分析和頻域分析，獲取時(shí)域分析結(jié)果和頻域分析結(jié)果；從所述頻域分析結(jié)果中提取所述頻譜特征和諧波特征；基于所述時(shí)域分析結(jié)果和頻域分析結(jié)果提取所述阻抗特征和相位特征。
4、可選地，基于所述響應(yīng)特征，在半導(dǎo)體元器件特征數(shù)據(jù)庫中進(jìn)行特征匹配，獲取特征匹配結(jié)果之前，所述方法包括：獲取多個(gè)電子設(shè)備樣本，其中，多個(gè)電子設(shè)備樣本包括不同種類、不同品牌和不同型號(hào)的電子設(shè)備；設(shè)備多種設(shè)備工作狀態(tài)，其中，多種設(shè)備工作狀態(tài)包括開機(jī)狀態(tài)、關(guān)機(jī)狀態(tài)、移除電池狀態(tài)和移除sim卡狀態(tài)；在正常電磁環(huán)境下，根據(jù)多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)、多個(gè)電子設(shè)備樣本和多種設(shè)備工作狀態(tài)，構(gòu)建導(dǎo)體元器件特征數(shù)據(jù)庫。
5、可選地，根據(jù)多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)、多個(gè)電子設(shè)備樣本和多種設(shè)備工作狀態(tài)，構(gòu)建導(dǎo)體元器件特征數(shù)據(jù)庫，包括：遍歷多個(gè)電子設(shè)備樣本，獲取第一電子設(shè)備樣本；根據(jù)多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)，獲取所述第一電子設(shè)備樣本在多種設(shè)備工作狀態(tài)下對(duì)所述多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)的第一樣本響應(yīng)特征；將所述第一電子設(shè)備樣本和所述第一樣本響應(yīng)特征進(jìn)行關(guān)聯(lián)，添加至所述導(dǎo)體元器件特征數(shù)據(jù)庫。
6、可選地，根據(jù)多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)，獲取所述第一電子設(shè)備樣本在多種設(shè)備工作狀態(tài)下對(duì)所述多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)的第一樣本響應(yīng)特征，包括：遍歷多種設(shè)備工作狀態(tài)，獲取第一設(shè)備工作狀態(tài)；在所述第一設(shè)備工作狀態(tài)下，對(duì)所述第一電子設(shè)備樣本發(fā)射多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)，并接收第一電子設(shè)備樣本對(duì)所述多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)的第一狀態(tài)響應(yīng)特征；將所述第一設(shè)備工作狀態(tài)和所述第一狀態(tài)響應(yīng)特征進(jìn)行關(guān)聯(lián)，添加至所述第一電子設(shè)備樣本的第一樣本響應(yīng)特征。
7、可選地，基于所述響應(yīng)特征，在半導(dǎo)體元器件特征數(shù)據(jù)庫中進(jìn)行特征匹配，獲取特征匹配結(jié)果，包括：根據(jù)同步處理最大數(shù)量，在所述半導(dǎo)體元器件特征數(shù)據(jù)庫中提取多個(gè)樣本響應(yīng)特征；基于特征匹配計(jì)算公式，同步計(jì)算所述響應(yīng)特征和多個(gè)樣本響應(yīng)特征的匹配度，得到多個(gè)響應(yīng)匹配度；將所述多個(gè)響應(yīng)匹配度作為特征匹配結(jié)果。
8、可選地，特征匹配計(jì)算公式為：
9、
10、其中，為響應(yīng)特征和樣本響應(yīng)特征之間的匹配度，為響應(yīng)特征和樣本響應(yīng)特征的頻譜特征距離，為響應(yīng)特征和樣本響應(yīng)特征的諧波特征距離，為響應(yīng)特征和樣本響應(yīng)特征的阻抗特征距離，為響應(yīng)特征和樣本響應(yīng)特征的相位特征距離，、、分別表示頻譜特征、諧波特征、阻抗特征和相位特征的權(quán)重系數(shù)，且滿足。
11、本申請(qǐng)公開的另一個(gè)方面，提供了基于半導(dǎo)體介質(zhì)分析的手持電子產(chǎn)品探測裝置，該裝置包括：電磁信號(hào)發(fā)射單元，用于發(fā)射多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)，所述多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)包括低頻段電磁激勵(lì)信號(hào)、中頻段電磁激勵(lì)信號(hào)和高頻段電磁激勵(lì)信號(hào)；信號(hào)接收單元，用于接收目標(biāo)檢測對(duì)象對(duì)所述多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)的響應(yīng)信號(hào)；特征提取單元，用于對(duì)所述響應(yīng)信號(hào)進(jìn)行處理以提取響應(yīng)特征，所述響應(yīng)特征包括頻譜特征、諧波特征、阻抗特征和相位特征；特征匹配單元，用于基于所述響應(yīng)特征，在半導(dǎo)體元器件特征數(shù)據(jù)庫中進(jìn)行特征匹配，獲取特征匹配結(jié)果；判斷分析單元，用于根據(jù)所述特征匹配結(jié)果判斷所述目標(biāo)檢測對(duì)象是否含有電子設(shè)備；聲光警示單元，用于當(dāng)判斷所述目標(biāo)檢測對(duì)象含有電子設(shè)備時(shí)，通過聲光單元進(jìn)行示警。
12、本申請(qǐng)?zhí)峁┑幕诎雽?dǎo)體介質(zhì)分析的手持電子產(chǎn)品探測方法及裝置，首先，發(fā)射多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)，其中多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)包括低頻段電磁激勵(lì)信號(hào)、中頻段電磁激勵(lì)信號(hào)和高頻段電磁激勵(lì)信號(hào)。這種多頻段激勵(lì)方式能夠全面激發(fā)不同類型半導(dǎo)體元器件的電磁響應(yīng)特性，相比單一頻率探測提高了檢測的全面性和適應(yīng)性。然后，接收目標(biāo)檢測對(duì)象對(duì)多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)的響應(yīng)信號(hào)，捕獲目標(biāo)物體在不同頻段電磁激勵(lì)下產(chǎn)生的電磁響應(yīng)，為后續(xù)分析提供原始數(shù)據(jù)。接著，對(duì)接收到的響應(yīng)信號(hào)進(jìn)行處理以提取響應(yīng)特征，其中響應(yīng)特征包括頻譜特征、諧波特征、阻抗特征和相位特征。通過對(duì)多維度特征的提取，能夠全面反映半導(dǎo)體元器件的電磁特性，為精確識(shí)別提供依據(jù)。隨后，基于提取的響應(yīng)特征，在半導(dǎo)體元器件特征數(shù)據(jù)庫中進(jìn)行特征匹配，獲取特征匹配結(jié)果，將檢測到的特征與預(yù)先建立的數(shù)據(jù)庫進(jìn)行比對(duì)，通過模式識(shí)別實(shí)現(xiàn)對(duì)電子設(shè)備的辨別。隨后，根據(jù)特征匹配結(jié)果判斷目標(biāo)檢測對(duì)象是否含有電子設(shè)備，從而識(shí)別電子設(shè)備。當(dāng)判斷目標(biāo)檢測對(duì)象含有電子設(shè)備時(shí)，通過聲光單元進(jìn)行示警，及時(shí)向檢測人員提供警示信息，實(shí)現(xiàn)對(duì)違禁電子設(shè)備的有效發(fā)現(xiàn)。
13、上述技術(shù)方案通過多頻段激勵(lì)與多維度特征分析相結(jié)合的方式，能夠有效識(shí)別各種狀態(tài)下的電子設(shè)備，包括開機(jī)、關(guān)機(jī)、拔出電池或移除sim卡等狀態(tài)的通信產(chǎn)品，解決了現(xiàn)有技術(shù)中無法有效檢測微型電子設(shè)備的技術(shù)問題。
1.基于半導(dǎo)體介質(zhì)分析的手持電子產(chǎn)品探測方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于半導(dǎo)體介質(zhì)分析的手持電子產(chǎn)品探測方法，其特征在于，對(duì)所述響應(yīng)信號(hào)進(jìn)行處理以提取響應(yīng)特征，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于半導(dǎo)體介質(zhì)分析的手持電子產(chǎn)品探測方法，其特征在于，在所述基于所述響應(yīng)特征，在半導(dǎo)體元器件特征數(shù)據(jù)庫中進(jìn)行特征匹配，獲取特征匹配結(jié)果之前，包括以下步驟：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于半導(dǎo)體介質(zhì)分析的手持電子產(chǎn)品探測方法，其特征在于，所述根據(jù)多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)、多個(gè)電子設(shè)備樣本和多種設(shè)備工作狀態(tài)，構(gòu)建導(dǎo)體元器件特征數(shù)據(jù)庫，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于半導(dǎo)體介質(zhì)分析的手持電子產(chǎn)品探測方法，其特征在于，所述根據(jù)多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)，獲取所述第一電子設(shè)備樣本在多種設(shè)備工作狀態(tài)下對(duì)所述多頻段電磁激勵(lì)信號(hào)的第一樣本響應(yīng)特征，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于半導(dǎo)體介質(zhì)分析的手持電子產(chǎn)品探測方法，其特征在于，所述基于所述響應(yīng)特征，在半導(dǎo)體元器件特征數(shù)據(jù)庫中進(jìn)行特征匹配，獲取特征匹配結(jié)果，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于半導(dǎo)體介質(zhì)分析的手持電子產(chǎn)品探測方法，其特征在于，所述特征匹配計(jì)算公式為：
8.基于半導(dǎo)體介質(zhì)分析的手持電子產(chǎn)品探測裝置，其特征在于，采用權(quán)利要求1-7任一所述一種基于半導(dǎo)體介質(zhì)分析的手持電子產(chǎn)品探測方法，包括：