本技術(shù)實(shí)施例涉及電子測試，尤其涉及電子產(chǎn)品的測試方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、隨著柔性電子產(chǎn)品在可穿戴設(shè)備、柔性顯示屏及電子皮膚等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，產(chǎn)品在復(fù)雜彎折場景下的機(jī)械耐久性與電路功能穩(wěn)定性成為關(guān)鍵性能指標(biāo)。例如，可折疊手機(jī)鉸鏈區(qū)域需承受數(shù)萬次彎折而不失效，植入式醫(yī)療傳感器需在人體關(guān)節(jié)反復(fù)彎曲下保持電路功能穩(wěn)定。這些場景要求測試方法能夠同步監(jiān)測機(jī)械形變與電路響應(yīng)，并建立兩者之間的關(guān)聯(lián)規(guī)律，以精準(zhǔn)定位失效根源并指導(dǎo)設(shè)計(jì)優(yōu)化；

2、目前，針對(duì)柔性電子產(chǎn)品的測試方案主要采用機(jī)械加載與電路監(jiān)測分時(shí)獨(dú)立運(yùn)行的方式，具體而言，通過多軸彎折機(jī)械臂施加周期性彎折載荷，記錄產(chǎn)品的機(jī)械壽命與斷裂次數(shù)，同時(shí)利用阻抗監(jiān)測設(shè)備獨(dú)立采集電路性能數(shù)據(jù)(如阻抗幅值與相位角變化)；兩類數(shù)據(jù)通過人工對(duì)比時(shí)間戳進(jìn)行粗略關(guān)聯(lián)，嘗試分析機(jī)械形變與電路失效的潛在聯(lián)系；

3、現(xiàn)有方案的主要缺陷在于缺乏多技術(shù)協(xié)同與時(shí)空同步性。機(jī)械加載與電路監(jiān)測分時(shí)獨(dú)立運(yùn)行，導(dǎo)致兩類數(shù)據(jù)的時(shí)間基準(zhǔn)不統(tǒng)一，難以精確匹配彎折相位與電路響應(yīng)事件，此外，現(xiàn)有方案無法建立機(jī)械形變與電路失效的時(shí)空關(guān)聯(lián)規(guī)則，導(dǎo)致無法區(qū)分基底斷裂失效與電路功能性失效的根本原因；例如，當(dāng)電路失效由基底形變間接導(dǎo)致時(shí)，現(xiàn)有方案會(huì)誤判為純電路缺陷，從而影響設(shè)計(jì)優(yōu)化方向。更重要的是，現(xiàn)有方案輸出的機(jī)械壽命、應(yīng)變梯度、阻抗閾值等參數(shù)為孤立指標(biāo)，缺乏時(shí)間序列關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)集支撐的映射規(guī)律，無法指導(dǎo)精準(zhǔn)優(yōu)化(如無法定位需優(yōu)先加固的應(yīng)變-電路耦合區(qū)域)，限制了測試方法的整體效能。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本技術(shù)實(shí)施例提供電子產(chǎn)品的測試方法及系統(tǒng)，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中機(jī)械形變與電路失效關(guān)聯(lián)性分析缺失、多源數(shù)據(jù)時(shí)空異步性導(dǎo)致的失效機(jī)理誤判及優(yōu)化指導(dǎo)不足的問題。

2、第一方面，本技術(shù)實(shí)施例提供電子產(chǎn)品的測試方法，包括：

3、根據(jù)織物彎曲疲勞測試標(biāo)準(zhǔn)，利用多軸彎折機(jī)械臂對(duì)柔性電子產(chǎn)品施加周期性彎折載荷，生成符合測試標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜，其中，所述多軸彎折機(jī)械臂的運(yùn)動(dòng)軌跡包含三維空間內(nèi)可編程的復(fù)合彎曲路徑；

4、在所述柔性電子產(chǎn)品的表面貼合應(yīng)變敏感標(biāo)記層，并同步采集在所述標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜作用下應(yīng)變敏感標(biāo)記層的動(dòng)態(tài)應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)；

5、將預(yù)設(shè)的柔性電路阻抗動(dòng)態(tài)監(jiān)測探針以非侵入方式接入所述柔性電子產(chǎn)品的導(dǎo)電線路，并在所述標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜作用期間記錄各導(dǎo)電線路的阻抗幅值及相位角變化數(shù)據(jù)，生成阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜；

6、將所述標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜中的機(jī)械彎折參數(shù)與所述動(dòng)態(tài)應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)、所述阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜的采集時(shí)間進(jìn)行對(duì)齊，生成時(shí)間序列關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)集，所述時(shí)間序列數(shù)據(jù)集包括：機(jī)械彎折參數(shù)、應(yīng)變場時(shí)空演變特征以及阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)特征；

7、基于所述時(shí)間序列關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)集，分析預(yù)設(shè)彎曲相位下局部應(yīng)變集中區(qū)域與所述阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜中對(duì)應(yīng)導(dǎo)電線路的阻抗突變事件之間的空間位置匹配度及時(shí)間相關(guān)性，以確定柔性電子產(chǎn)品中機(jī)械形變與電路失效的映射規(guī)律；

8、根據(jù)所述映射規(guī)律，判斷柔性電子產(chǎn)品在復(fù)合彎曲路徑下的失效模式，所述失效模式包含由所述動(dòng)態(tài)應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)表征的基底斷裂失效和由所述阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜表征的電路功能性失效。

9、可選地，基于所述時(shí)間序列關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)集，分析預(yù)設(shè)彎曲相位下局部應(yīng)變集中區(qū)域與所述阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜中對(duì)應(yīng)導(dǎo)電線路的阻抗突變事件之間的空間位置匹配度及時(shí)間相關(guān)性，以確定柔性電子產(chǎn)品中機(jī)械形變與電路失效的映射規(guī)律，包括：

10、對(duì)所述時(shí)間序列關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)集進(jìn)行周期同步分割處理，生成與單次彎折周期嚴(yán)格對(duì)齊的同步數(shù)據(jù)段，其中，所述同步數(shù)據(jù)段包含機(jī)械彎折參數(shù)、應(yīng)變場時(shí)空演變特征以及阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)特征的時(shí)序?qū)R數(shù)據(jù)；

11、在所述同步數(shù)據(jù)段中提取動(dòng)態(tài)應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)的應(yīng)變梯度極值點(diǎn)坐標(biāo)，生成應(yīng)變集中區(qū)域特征集，基于所述應(yīng)變集中區(qū)域特征集中的應(yīng)變梯度幅值，篩選超過預(yù)設(shè)材料應(yīng)變閾值的應(yīng)變梯度極值點(diǎn)，生成應(yīng)變梯度超限事件列表；

12、對(duì)所述同步數(shù)據(jù)段中的阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜進(jìn)行突變事件檢測，生成有效阻抗突變事件列表，將所述應(yīng)變集中區(qū)域特征集的空間坐標(biāo)與所述有效阻抗突變事件列表中的導(dǎo)電線路拓?fù)湮恢眠M(jìn)行空間網(wǎng)格配準(zhǔn)，生成空間耦合度參數(shù)；

13、對(duì)所述應(yīng)變梯度超限事件列表中的時(shí)間戳和所述有效阻抗突變事件列表中的時(shí)間戳進(jìn)行時(shí)序相關(guān)性分析，生成時(shí)序耦合度參數(shù)；

14、將所述空間耦合度參數(shù)和時(shí)序耦合度參數(shù)輸入預(yù)設(shè)的聯(lián)合判據(jù)模型，生成機(jī)械形變電路失效關(guān)聯(lián)類型分類結(jié)果，根據(jù)所述關(guān)聯(lián)類型分類結(jié)果的統(tǒng)計(jì)分布及空間聚集特征，生成機(jī)械形變與電路失效的映射規(guī)律，其中，所述映射規(guī)律包括：空間耦合閾值、時(shí)序耦合閾值以及失效類型判定規(guī)則。

15、可選地，對(duì)所述同步數(shù)據(jù)段中的阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜進(jìn)行突變事件檢測，生成有效阻抗突變事件列表，將所述應(yīng)變集中區(qū)域特征集的空間坐標(biāo)與所述有效阻抗突變事件列表中的導(dǎo)電線路拓?fù)湮恢眠M(jìn)行空間網(wǎng)格配準(zhǔn)，生成空間耦合度參數(shù)，包括：

16、對(duì)所述同步數(shù)據(jù)段中的阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜進(jìn)行滑動(dòng)窗口差分計(jì)算，生成阻抗變化率序列，基于所述阻抗變化率序列，通過自適應(yīng)閾值檢測算法識(shí)別出阻抗突變事件候選點(diǎn)，以生成初始阻抗突變事件列表；

17、對(duì)所述初始阻抗突變事件列表中的候選點(diǎn)進(jìn)行周期性驗(yàn)證，篩選與所述機(jī)械彎折參數(shù)的彎折周期同步的阻抗突變事件，生成有效阻抗突變事件列表，所述有效阻抗突變事件列表包含有效事件的時(shí)間戳、阻抗變化率及對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電線路拓?fù)湮恢茫?/p>

18、根據(jù)所述有效阻抗突變事件列表中的導(dǎo)電線路拓?fù)湮恢?，將柔性電子產(chǎn)品的導(dǎo)電線路分割為與阻抗突變事件關(guān)聯(lián)的獨(dú)立導(dǎo)電線路段，生成導(dǎo)電線路段列表；

19、將所述應(yīng)變集中區(qū)域特征集中的應(yīng)變梯度極值點(diǎn)坐標(biāo)映射到預(yù)設(shè)的空間網(wǎng)格模型中，生成應(yīng)變集中區(qū)域網(wǎng)格分布圖，所述應(yīng)變集中區(qū)域網(wǎng)格分布圖包含每個(gè)網(wǎng)格單元的應(yīng)變梯度幅值及空間坐標(biāo)；

20、將所述有效阻抗突變事件列表中的導(dǎo)電線路拓?fù)湮恢猛队暗剿鰬?yīng)變集中區(qū)域網(wǎng)格分布圖中，計(jì)算每個(gè)有效阻抗突變事件對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電線路段與應(yīng)變集中區(qū)域網(wǎng)格單元的空間重疊面積，生成局部空間重疊面積列表，基于所述局部空間重疊面積列表，計(jì)算每個(gè)有效阻抗突變事件的空間耦合度參數(shù)。

21、可選地，將所述有效阻抗突變事件列表中的導(dǎo)電線路拓?fù)湮恢猛队暗剿鰬?yīng)變集中區(qū)域網(wǎng)格分布圖中，計(jì)算每個(gè)有效阻抗突變事件對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電線路段與應(yīng)變集中區(qū)域網(wǎng)格單元的空間重疊面積，生成局部空間重疊面積列表，基于所述局部空間重疊面積列表，計(jì)算每個(gè)有效阻抗突變事件的空間耦合度參數(shù)，包括：

22、將所述導(dǎo)電線路段列表中的每個(gè)導(dǎo)電線路段轉(zhuǎn)換為空間矢量線段模型，生成導(dǎo)電線路矢量圖，所述導(dǎo)電線路矢量圖包含每個(gè)導(dǎo)電線路段的起點(diǎn)坐標(biāo)、終點(diǎn)坐標(biāo)及矢量長度；

23、將所述應(yīng)變集中區(qū)域網(wǎng)格分布圖中的每個(gè)網(wǎng)格單元轉(zhuǎn)換為多邊形幾何模型，生成應(yīng)變集中區(qū)域幾何分布圖，所述應(yīng)變集中區(qū)域幾何分布圖包含每個(gè)網(wǎng)格單元的多邊形頂點(diǎn)坐標(biāo)及應(yīng)變梯度幅值；

24、將所述導(dǎo)電線路矢量圖中的每個(gè)導(dǎo)電線路段與所述應(yīng)變集中區(qū)域幾何分布圖中的網(wǎng)格單元進(jìn)行幾何疊加分析，計(jì)算導(dǎo)電線路段矢量與網(wǎng)格單元多邊形的交集面積，生成初始重疊面積列表；

25、對(duì)所述初始重疊面積列表進(jìn)行歸一化處理，根據(jù)每個(gè)導(dǎo)電線路段的矢量長度計(jì)算導(dǎo)電線路段的覆蓋總面積，生成歸一化重疊面積列表，所述歸一化重疊面積列表包含每個(gè)導(dǎo)電線路段與對(duì)應(yīng)網(wǎng)格單元的交集面積占比；

26、基于所述歸一化重疊面積列表，提取每個(gè)有效阻抗突變事件對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電線路段與應(yīng)變集中區(qū)域網(wǎng)格單元的交集面積占比最大值，生成局部空間重疊面積列表，將所述局部空間重疊面積列表中的交集面積占比最大值映射為空間耦合度參數(shù)。

27、可選地，基于所述時(shí)間序列關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)集，分析預(yù)設(shè)彎曲相位下局部應(yīng)變集中區(qū)域與所述阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜中對(duì)應(yīng)導(dǎo)電線路的阻抗突變事件之間的空間位置匹配度及時(shí)間相關(guān)性，以確定柔性電子產(chǎn)品中機(jī)械形變與電路失效的映射規(guī)律，包括：

28、從所述映射規(guī)律中提取空間耦合閾值和時(shí)序耦合閾值，生成失效判據(jù)列表，所述失效判據(jù)列表包含基底斷裂失效判據(jù)和電路功能性失效判據(jù)的觸發(fā)條件組合；

29、將所述時(shí)間序列關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)集中的機(jī)械彎折參數(shù)輸入復(fù)合彎曲路徑仿真模型，生成每個(gè)彎折周期的路徑應(yīng)力分布圖譜，所述路徑應(yīng)力分布圖譜包含三維空間內(nèi)各節(jié)點(diǎn)的等效彎曲應(yīng)力幅值；

30、對(duì)所述動(dòng)態(tài)應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)進(jìn)行應(yīng)變梯度累積分析，提取各彎折周期內(nèi)最大應(yīng)變梯度值及其空間坐標(biāo)，生成應(yīng)變累積特征列表；

31、根據(jù)所述阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜的相位角變化趨勢，識(shí)別導(dǎo)電線路的阻抗衰減速率，生成電路性能退化曲線，所述電路性能退化曲線包含各導(dǎo)電線路的阻抗衰減率與彎折周期的對(duì)應(yīng)關(guān)系；

32、將所述應(yīng)變累積特征列表中的最大應(yīng)變梯度值與所述失效判據(jù)列表中的基底斷裂失效判據(jù)進(jìn)行閾值匹配，生成基底斷裂風(fēng)險(xiǎn)事件列表，所述基底斷裂風(fēng)險(xiǎn)事件列表包含超限應(yīng)變梯度值對(duì)應(yīng)的彎折周期編號(hào)及空間坐標(biāo)；

33、將所述電路性能退化曲線中的阻抗衰減率與所述失效判據(jù)列表中的電路功能性失效判據(jù)進(jìn)行斜率匹配，生成電路失效風(fēng)險(xiǎn)事件列表，所述電路失效風(fēng)險(xiǎn)事件列表包含超限阻抗衰減率對(duì)應(yīng)的彎折周期編號(hào)及導(dǎo)電線路標(biāo)識(shí)；

34、對(duì)所述基底斷裂風(fēng)險(xiǎn)事件列表和電路失效風(fēng)險(xiǎn)事件列表進(jìn)行多周期時(shí)空關(guān)聯(lián)分析，統(tǒng)計(jì)同一彎折周期內(nèi)基底斷裂與電路失效事件的時(shí)空重合度，生成復(fù)合失效關(guān)聯(lián)度參數(shù)；

35、基于所述復(fù)合失效關(guān)聯(lián)度參數(shù)，結(jié)合所述路徑應(yīng)力分布圖譜的等效彎曲應(yīng)力幅值，以判斷柔性電子產(chǎn)品的失效模式。

36、可選地，在所述柔性電子產(chǎn)品的表面貼合應(yīng)變敏感標(biāo)記層，并同步采集在所述標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜作用下應(yīng)變敏感標(biāo)記層的動(dòng)態(tài)應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)，包括：

37、根據(jù)柔性電子產(chǎn)品的基底材料熱膨脹系數(shù)及表面曲率，設(shè)計(jì)應(yīng)變敏感標(biāo)記層的網(wǎng)格密度與標(biāo)記點(diǎn)尺寸，生成適配所述柔性電子產(chǎn)品形變特性的應(yīng)變敏感標(biāo)記層參數(shù)，所述應(yīng)變敏感標(biāo)記層參數(shù)包含標(biāo)記點(diǎn)陣列間距、標(biāo)記點(diǎn)直徑及基底附著強(qiáng)度閾值；

38、將所述應(yīng)變敏感標(biāo)記層參數(shù)對(duì)應(yīng)的標(biāo)記點(diǎn)陣列印制在柔性基底表面，生成與所述柔性電子產(chǎn)品導(dǎo)電線路無干涉的應(yīng)變敏感標(biāo)記層，所述應(yīng)變敏感標(biāo)記層的標(biāo)記點(diǎn)陣列覆蓋全部彎折作用區(qū)域且邊緣預(yù)留防剝離緩沖帶；

39、在所述多軸彎折機(jī)械臂施加標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜過程中，利用高速數(shù)字圖像采集系統(tǒng)以與彎折頻率匹配的采樣率同步獲取所述應(yīng)變敏感標(biāo)記層的動(dòng)態(tài)散斑圖像序列；

40、對(duì)所述動(dòng)態(tài)散斑圖像序列進(jìn)行亞像素級(jí)位移場計(jì)算，生成初始位移矢量場，所述初始位移矢量場包含每個(gè)標(biāo)記點(diǎn)在三維空間內(nèi)的瞬時(shí)位移分量及位移方向角；

41、基于所述初始位移矢量場，計(jì)算每個(gè)標(biāo)記點(diǎn)鄰域內(nèi)的應(yīng)變分量，生成原始應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)，所述原始應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)包含主應(yīng)變幅值、剪切應(yīng)變分量及應(yīng)變梯度方向，對(duì)所述原始應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)進(jìn)行空間濾波與異常點(diǎn)剔除處理，生成校準(zhǔn)后的動(dòng)態(tài)應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)。

42、可選地，將預(yù)設(shè)的柔性電路阻抗動(dòng)態(tài)監(jiān)測探針以非侵入方式接入所述柔性電子產(chǎn)品的導(dǎo)電線路，并在所述標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜作用期間記錄各導(dǎo)電線路的阻抗幅值及相位角變化數(shù)據(jù)，生成阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜，包括：

43、根據(jù)柔性電子產(chǎn)品導(dǎo)電線路的線寬、間距及材料阻抗特性，設(shè)計(jì)非侵入式探針的接觸壓力與觸點(diǎn)陣列分布參數(shù)，生成適配目標(biāo)導(dǎo)電線路的探針配置方案，所述探針配置方案包含觸點(diǎn)陣列間距、單觸點(diǎn)壓力閾值及多點(diǎn)接觸同步性誤差范圍；

44、基于所述探針配置方案，將柔性電路阻抗動(dòng)態(tài)監(jiān)測探針的觸點(diǎn)陣列以跨線路非覆蓋方式布局在目標(biāo)導(dǎo)電線路兩側(cè)，形成與導(dǎo)電線路走向平行的雙通道接觸結(jié)構(gòu)；

45、在所述標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜加載過程中，基于所述雙通道接觸結(jié)構(gòu)的動(dòng)態(tài)接觸特性，以與機(jī)械彎折相位同步的采樣頻率采集各導(dǎo)電線路的原始阻抗時(shí)序數(shù)據(jù)，生成初始阻抗時(shí)序數(shù)據(jù)集，所述初始阻抗時(shí)序數(shù)據(jù)集包含阻抗幅值、相位角以及對(duì)應(yīng)彎折相位的時(shí)序?qū)R記錄；

46、對(duì)所述初始阻抗時(shí)序數(shù)據(jù)集進(jìn)行滑動(dòng)窗口平均濾波與自適應(yīng)陷波濾波處理，消除彎折運(yùn)動(dòng)引起的接觸噪聲和電磁干擾，生成處理后的阻抗時(shí)序數(shù)據(jù)；

47、基于所述處理后的阻抗時(shí)序數(shù)據(jù)，通過阻抗變化率閾值檢測與相位角微分聯(lián)合判據(jù)，識(shí)別各導(dǎo)電線路的阻抗突變事件候選點(diǎn)，生成阻抗事件候選列表，所述阻抗事件候選列表包含事件時(shí)間戳、阻抗變化率以及相位角偏移量；

48、對(duì)所述阻抗事件候選列表進(jìn)行彎折周期同步性驗(yàn)證，篩選與所述標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜的彎折相位具有固定時(shí)間延遲關(guān)系的有效阻抗事件，生成有效阻抗事件列表，所述有效阻抗事件列表包含事件時(shí)間戳、所屬導(dǎo)電線路標(biāo)識(shí)以及事件等級(jí)分類；

49、基于所述有效阻抗事件列表及所述處理后的阻抗時(shí)序數(shù)據(jù)，統(tǒng)計(jì)各導(dǎo)電線路在彎折周期內(nèi)阻抗幅值波動(dòng)范圍、相位角偏移趨勢及事件觸發(fā)頻率，生成阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜，所述阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜包含按彎折相位分段的阻抗幅值相位聯(lián)合分布特征以及事件密度熱力圖。

50、第二方面，本技術(shù)實(shí)施例提供電子產(chǎn)品的測試系統(tǒng)，包括：

51、生成模塊，用于根據(jù)織物彎曲疲勞測試標(biāo)準(zhǔn)，利用多軸彎折機(jī)械臂對(duì)柔性電子產(chǎn)品施加周期性彎折載荷，生成符合測試標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜，其中，所述多軸彎折機(jī)械臂的運(yùn)動(dòng)軌跡包含三維空間內(nèi)可編程的復(fù)合彎曲路徑；

52、采集模塊，用于在所述柔性電子產(chǎn)品的表面貼合應(yīng)變敏感標(biāo)記層，并同步采集在所述標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜作用下應(yīng)變敏感標(biāo)記層的動(dòng)態(tài)應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)；

53、接入模塊，用于將預(yù)設(shè)的柔性電路阻抗動(dòng)態(tài)監(jiān)測探針以非侵入方式接入所述柔性電子產(chǎn)品的導(dǎo)電線路，并在所述標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜作用期間記錄各導(dǎo)電線路的阻抗幅值及相位角變化數(shù)據(jù)，生成阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜；

54、對(duì)齊模塊，用于將所述標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜中的機(jī)械彎折參數(shù)與所述動(dòng)態(tài)應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)、所述阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜的采集時(shí)間進(jìn)行對(duì)齊，生成時(shí)間序列關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)集，所述時(shí)間序列數(shù)據(jù)集包括：機(jī)械彎折參數(shù)、應(yīng)變場時(shí)空演變特征以及阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)特征；

55、分析模塊，用于基于所述時(shí)間序列關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)集，分析預(yù)設(shè)彎曲相位下局部應(yīng)變集中區(qū)域與所述阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜中對(duì)應(yīng)導(dǎo)電線路的阻抗突變事件之間的空間位置匹配度及時(shí)間相關(guān)性，以確定柔性電子產(chǎn)品中機(jī)械形變與電路失效的映射規(guī)律；

56、判斷模塊，用于根據(jù)所述映射規(guī)律，判斷柔性電子產(chǎn)品在復(fù)合彎曲路徑下的失效模式，所述失效模式包含由所述動(dòng)態(tài)應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)表征的基底斷裂失效和由所述阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜表征的電路功能性失效。

57、第三方面，本技術(shù)實(shí)施例提供一種計(jì)算設(shè)備，包括處理器和存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述處理器被設(shè)置為運(yùn)行所述計(jì)算機(jī)程序以執(zhí)行第一方面任一所述的電子產(chǎn)品的測試方法。

58、第四方面，本技術(shù)實(shí)施例提供一種計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序指令，所述計(jì)算機(jī)程序指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)第一方面中任意一項(xiàng)所述的電子產(chǎn)品的測試方法。

59、本技術(shù)實(shí)施例中，根據(jù)織物彎曲疲勞測試標(biāo)準(zhǔn)，利用多軸彎折機(jī)械臂對(duì)柔性電子產(chǎn)品施加周期性彎折載荷，生成符合測試標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜，其中，所述多軸彎折機(jī)械臂的運(yùn)動(dòng)軌跡包含三維空間內(nèi)可編程的復(fù)合彎曲路徑；在所述柔性電子產(chǎn)品的表面貼合應(yīng)變敏感標(biāo)記層，并同步采集在所述標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜作用下應(yīng)變敏感標(biāo)記層的動(dòng)態(tài)應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)；將預(yù)設(shè)的柔性電路阻抗動(dòng)態(tài)監(jiān)測探針以非侵入方式接入所述柔性電子產(chǎn)品的導(dǎo)電線路，并在所述標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜作用期間記錄各導(dǎo)電線路的阻抗幅值及相位角變化數(shù)據(jù)，生成阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜；將所述標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜中的機(jī)械彎折參數(shù)與所述動(dòng)態(tài)應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)、所述阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜的采集時(shí)間進(jìn)行對(duì)齊，生成時(shí)間序列關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)集；基于所述時(shí)間序列關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)集，分析預(yù)設(shè)彎曲相位下局部應(yīng)變集中區(qū)域與所述阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜中對(duì)應(yīng)導(dǎo)電線路的阻抗突變事件之間的空間位置匹配度及時(shí)間相關(guān)性，以確定柔性電子產(chǎn)品中機(jī)械形變與電路失效的映射規(guī)律；根據(jù)所述映射規(guī)律，判斷柔性電子產(chǎn)品在復(fù)合彎曲路徑下的失效模式，所述失效模式包含由所述動(dòng)態(tài)應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)表征的基底斷裂失效和由所述阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜表征的電路功能性失效。

60、本技術(shù)技術(shù)方案通過以上步驟，突破傳統(tǒng)單一物理場測試的局限性，能夠區(qū)分基底斷裂失效(由動(dòng)態(tài)應(yīng)變場分布數(shù)據(jù)中局部應(yīng)變梯度超限觸發(fā))與電路功能性失效(由阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜中阻抗突變事件獨(dú)立觸發(fā))，同時(shí)識(shí)別機(jī)械-電路耦合導(dǎo)致的復(fù)合失效模式，顯著提升測試結(jié)果對(duì)產(chǎn)品設(shè)計(jì)的指導(dǎo)價(jià)值，可精準(zhǔn)定位彎折敏感區(qū)域并優(yōu)化材料與電路布局，從而增強(qiáng)柔性電子產(chǎn)品在復(fù)雜彎折場景下的可靠性與使用壽命。

61、進(jìn)一步地，通過周期同步分割處理將多源數(shù)據(jù)嚴(yán)格對(duì)齊至單次彎折周期，提取應(yīng)變集中區(qū)域特征集與有效阻抗突變事件列表，結(jié)合空間網(wǎng)格配準(zhǔn)量化應(yīng)變場與電路失效位置的空間耦合度參數(shù)，并通過時(shí)序相關(guān)性分析生成時(shí)序耦合度參數(shù)，最終利用聯(lián)合判據(jù)模型對(duì)機(jī)械形變與電路失效的關(guān)聯(lián)類型進(jìn)行精準(zhǔn)分類，突破傳統(tǒng)測試中機(jī)械與電路數(shù)據(jù)孤立分析的局限，通過時(shí)空雙重耦合判據(jù)有效區(qū)分應(yīng)變主導(dǎo)型失效、獨(dú)立電路失效及復(fù)合失效模式，能夠定位機(jī)械電路耦合敏感區(qū)域(如彎折路徑曲率突變處的應(yīng)變-阻抗同步異常區(qū)域)，為優(yōu)化柔性電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)提供量化依據(jù)，顯著提升失效機(jī)理分析的準(zhǔn)確性與工程指導(dǎo)價(jià)值。

62、本技術(shù)的這些方面或其他方面在以下實(shí)施例的描述中會(huì)更加簡明易懂。