1.電子產(chǎn)品的測(cè)試方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述時(shí)間序列關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)集，分析預(yù)設(shè)彎曲相位下局部應(yīng)變集中區(qū)域與所述阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜中對(duì)應(yīng)導(dǎo)電線路的阻抗突變事件之間的空間位置匹配度及時(shí)間相關(guān)性，以確定柔性電子產(chǎn)品中機(jī)械形變與電路失效的映射規(guī)律，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，對(duì)所述同步數(shù)據(jù)段中的阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜進(jìn)行突變事件檢測(cè)，生成有效阻抗突變事件列表，將所述應(yīng)變集中區(qū)域特征集的空間坐標(biāo)與所述有效阻抗突變事件列表中的導(dǎo)電線路拓?fù)湮恢眠M(jìn)行空間網(wǎng)格配準(zhǔn)，生成空間耦合度參數(shù)，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，將所述有效阻抗突變事件列表中的導(dǎo)電線路拓?fù)湮恢猛队暗剿鰬?yīng)變集中區(qū)域網(wǎng)格分布圖中，計(jì)算每個(gè)有效阻抗突變事件對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電線路段與應(yīng)變集中區(qū)域網(wǎng)格單元的空間重疊面積，生成局部空間重疊面積列表，基于所述局部空間重疊面積列表，計(jì)算每個(gè)有效阻抗突變事件的空間耦合度參數(shù)，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述映射規(guī)律，判斷柔性電子產(chǎn)品在復(fù)合彎曲路徑下的失效模式，所述失效模式包含由所述動(dòng)態(tài)應(yīng)變場(chǎng)分布數(shù)據(jù)表征的基底斷裂失效和由所述阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜表征的電路功能性失效，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述柔性電子產(chǎn)品的表面貼合應(yīng)變敏感標(biāo)記層，并同步采集在所述標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜作用下應(yīng)變敏感標(biāo)記層的動(dòng)態(tài)應(yīng)變場(chǎng)分布數(shù)據(jù)，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，將預(yù)設(shè)的柔性電路阻抗動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)探針以非侵入方式接入所述柔性電子產(chǎn)品的導(dǎo)電線路，并在所述標(biāo)準(zhǔn)彎折載荷譜作用期間記錄各導(dǎo)電線路的阻抗幅值及相位角變化數(shù)據(jù)，生成阻抗動(dòng)態(tài)響應(yīng)譜，包括：
8.電子產(chǎn)品的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括：
9.一種計(jì)算設(shè)備，其特征在于，包括處理組件以及存儲(chǔ)組件；所述存儲(chǔ)組件存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)指令；所述一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)指令用以被所述處理組件調(diào)用執(zhí)行，實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1～7任一項(xiàng)所述的電子產(chǎn)品的測(cè)試方法。
10.一種計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被計(jì)算機(jī)執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1～7任一項(xiàng)所述的電子產(chǎn)品的測(cè)試方法。